中文名: 掃描電鏡與能譜儀分析技術
作者: 張大同
圖書分類: 科技
資源格式: PDF
版本: 掃描版
出版社: 華南理工大學出版社
書號: 9787562328858
發行時間: 2009年2月
地區: 大陸
語言: 簡體中文
簡介:

內容介紹：
本書是關於掃描電子顯微鏡和x-射線能譜議的專著，全書共十章，第一章至第七章介紹掃描電鏡基礎知識、電子束與樣品的相互作用、工作原理與結構、圖像襯度與成因、圖像質量與操作要點、幾種成像技術、電鏡安裝與驗收，第八章與第九章分別介紹能譜儀的結構、原理和應用技術，第十章為樣品制備技術，全書以實用為目的，結合材料學科的特點，在理論闡述基礎上提供切實可行的實驗技術，本書可供在金屬、高分子、無機、機械、微電子、半導體、礦物、化工、造紙等領域從事研究、生產的科技人員及大專院校師生參考。
內容截圖：

目錄:
第一章 基礎知識
第二章 電子束與樣品的相互作用
第三章 掃描電鏡的工作原理和結構
第四章 掃描電鏡圖像襯度和成因
第五章 掃描電鏡圖像質量和操作要點
第六章 掃描電鏡幾種成像與衍射技術
第七章 掃描電鏡的安裝和驗收
第八章 X射線能譜儀
第九章 X射線能譜儀分析技術
第十章 樣品制備技術
參考文獻